Uniwersytet Warszawski - Centralny System Uwierzytelniania
Strona główna

Charakterystyka fizykochemiczna próbek do analizy

Informacje ogólne

Kod przedmiotu: 1200-1ZMCHFPW5
Kod Erasmus / ISCED: 13.3 Kod klasyfikacyjny przedmiotu składa się z trzech do pięciu cyfr, przy czym trzy pierwsze oznaczają klasyfikację dziedziny wg. Listy kodów dziedzin obowiązującej w programie Socrates/Erasmus, czwarta (dotąd na ogół 0) – ewentualne uszczegółowienie informacji o dyscyplinie, piąta – stopień zaawansowania przedmiotu ustalony na podstawie roku studiów, dla którego przedmiot jest przeznaczony. / (0531) Chemia Kod ISCED - Międzynarodowa Standardowa Klasyfikacja Kształcenia (International Standard Classification of Education) została opracowana przez UNESCO.
Nazwa przedmiotu: Charakterystyka fizykochemiczna próbek do analizy
Jednostka: Wydział Chemii
Grupy: Przedmioty minimum programowego dla studentów 5-go semestru (S1-PRK-CHAI, S1-ZMITP)
Punkty ECTS i inne: 1.50 Podstawowe informacje o zasadach przyporządkowania punktów ECTS:
  • roczny wymiar godzinowy nakładu pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się dla danego etapu studiów wynosi 1500-1800 h, co odpowiada 60 ECTS;
  • tygodniowy wymiar godzinowy nakładu pracy studenta wynosi 45 h;
  • 1 punkt ECTS odpowiada 25-30 godzinom pracy studenta potrzebnej do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się;
  • tygodniowy nakład pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się pozwala uzyskać 1,5 ECTS;
  • nakład pracy potrzebny do zaliczenia przedmiotu, któremu przypisano 3 ECTS, stanowi 10% semestralnego obciążenia studenta.
Język prowadzenia: polski
Rodzaj przedmiotu:

obowiązkowe
Założenia (opisowo):

Wiedza jaką powinien posiadać student przed rozpoczęciem wykładu to podstawy wiedzy o chemii fizycznej i nieorganicznych oraz podstawy analizy instrumentalnej.
Tryb prowadzenia:

w sali
Skrócony opis:

Celem zajęć jest zapoznanie studenta z podstawami technik stosowanych w nowoczesnej analizie fizykochemicznej materiałów w zależności od ich rozmiaru (np. nanomateriały) i składu chemicznego.
Pełny opis:

W ramach wykładu (połączonego merytorycznie z pracownią "Charakterystyka fizykochemiczna próbek do analizy" ) omówione będą zagadnienia dotyczące wybranych technik fizykochemicznych stosowanych we współczesnej analizie chemicznej materiałów: Przedstawione zostną metody przenoszenia analitu z próbek laboratoryjnych (esktrakcja sekwencyjna, mineralizacja, stapianie) np. przed analizą spektrometrią mas sprzężona ze wzbudzeniem w plazmie (ICPMS), spektroskopia fotoelektronów (XPS), spektrometria mas jonów wtórnych (SIMS), technika powierzchniowo wzmocnionego rozpraszania ramanowskiego (SERRS) oraz sprzężenia rezonansowego, metody fotoelektrochemiczne w badaniu aktywności i morfologii fotoogniw, metody charakterystyki warstw na granicy faz woda/powietrze (metoda Langmuira/Langmuira-Blodgett, mikroskopia kąta Brewstera, elipsometria, mikrowaga kwarcowa, pomiar kąta zwilżania), spektroskopia w podczerwieni pojedynczych warstw (PMIRRAS), dyfrakcja rentgenowska (PXRD), mikroskopia elektronowa (SEM, TEM), mikroskopia sił atomowych (AFM), technika dynamicznego rozpraszania światła (DLS), pomiar potencjału zeta.
Literatura:

1. Kęcki Z., Podstawy spektroskopii molekularnej, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 1992

2. Barańska M., w Fotochemia i spektroskopia optyczna. Ćwiczenia laboratoryjne (red. Najbar J., Turek A.), Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 2009.

3. Feldman L. C., Mayer J. W., Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, North- -Holland, New York–Amsterdam–London 1986

4. Spectroscopy for Surface Science (red. Clark R. J. H., Hester R. E.), John Wiley & Sons, Chichester 1998

5. Bhushan B., Fusch H., Hosaka S., Applied scanning probe methods, Springer, 2002.

6. Metody spektroskopowe i ich zastosowanie do identyfikacji związków organicznych (red. Zieliński W., Rajca A.), WNT, Warszawa 2000

7. de Hoffmann E., Charette J., Stoobant V., Spektrometria mas, WNT, Warszawa 1998

8. Adamson A.W., Chemia fizyczna powierzchni, PWN, Warszawa 1963

9. Pigoń K., Ruziewicz Z., Chemia fizyczna. 1. Podstawy fenomenologiczne, Wyd. Naukowe PWN, Warszawa 2005
Efekty uczenia się:

Po ukończeniu kursu student powinien samodzielnie:

1. Wyjaśniać podstawy fizykochemiczne przedstawionych metod;

2. Opisać współczesne techniki wykorzystywane w analizie fizykochemicznej i materiałów;

3. Umieć zaproponować rozwiązanie zadania problemowego związanego z metodami przygotowywania i analizą materiału;

4. Posiadać wiedzę ogólną na temat budowy i działania omówionych aparatów;

5. Umieć zaproponować odpowiednią technikę oraz metodykę zbadania wybranej właściwości fizyko-chemicznych materiału.
Metody i kryteria oceniania:

Egzamin końcowy w formie ustnej
Praktyki zawodowe:

nie dotyczy

Zajęcia w cyklu "Semestr zimowy 2023/24" (zakończony)

Okres: 2023-10-01 - 2024-01-28
Wybrany podział planu:
Przejdź do planu
Typ zajęć:
Wykład, 15 godzin więcej informacji
Koordynatorzy: Dorota Nieciecka
Prowadzący grup: Dorota Nieciecka
Lista studentów: (nie masz dostępu)
Zaliczenie: Egzamin
Tryb prowadzenia:

w sali
Skrócony opis:

Celem zajęć jest zapoznanie studenta z podstawami technik stosowanych w nowoczesnej analizie fizykochemicznej materiałów w zależności od ich rozmiaru (np. nanomateriały) i składu chemicznego.
Pełny opis:

W ramach wykładu (połączonego merytorycznie z pracownią "Charakterystyka fizykochemiczna próbek do analizy" ) omówione będą zagadnienia dotyczące wybranych technik fizykochemicznych stosowanych we współczesnej analizie chemicznej materiałów: Przedstawione zostną metody przenoszenia analitu z próbek laboratoryjnych (esktrakcja sekwencyjna, mineralizacja, stapianie) np. przed analizą spektrometrią mas sprzężona ze wzbudzeniem w plazmie (ICPMS), spektroskopia fotoelektronów (XPS), spektrometria mas jonów wtórnych (SIMS), technika powierzchniowo wzmocnionego rozpraszania ramanowskiego (SERRS) oraz sprzężenia rezonansowego, metody fotoelektrochemiczne w badaniu aktywności i morfologii fotoogniw, metody charakterystyki warstw na granicy faz woda/powietrze (metoda Langmuira/Langmuira-Blodgett, mikroskopia kąta Brewstera, elipsometria, mikrowaga kwarcowa, pomiar kąta zwilżania), spektroskopia w podczerwieni pojedynczych warstw (PMIRRAS), dyfrakcja rentgenowska (PXRD), mikroskopia elektronowa (SEM, TEM), mikroskopia sił atomowych (AFM), technika dynamicznego rozpraszania światła (DLS), pomiar potencjału zeta.
Literatura:

1. Kęcki Z., Podstawy spektroskopii molekularnej, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 1992

2. Barańska M., w Fotochemia i spektroskopia optyczna. Ćwiczenia laboratoryjne (red. Najbar J., Turek A.), Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 2009.

3. Feldman L. C., Mayer J. W., Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, North- -Holland, New York–Amsterdam–London 1986

4. Spectroscopy for Surface Science (red. Clark R. J. H., Hester R. E.), John Wiley & Sons, Chichester 1998

5. Bhushan B., Fusch H., Hosaka S., Applied scanning probe methods, Springer, 2002.

6. Metody spektroskopowe i ich zastosowanie do identyfikacji związków organicznych (red. Zieliński W., Rajca A.), WNT, Warszawa 2000

7. de Hoffmann E., Charette J., Stoobant V., Spektrometria mas, WNT, Warszawa 1998

8. Adamson A.W., Chemia fizyczna powierzchni, PWN, Warszawa 1963

9. Pigoń K., Ruziewicz Z., Chemia fizyczna. 1. Podstawy fenomenologiczne, Wyd. Naukowe PWN, Warszawa 2005

Zajęcia w cyklu "Semestr zimowy 2024/25" (jeszcze nie rozpoczęty)

Okres: 2024-10-01 - 2025-01-26
Wybrany podział planu:
Przejdź do planu
Typ zajęć:
Wykład, 15 godzin więcej informacji
Koordynatorzy: Dorota Nieciecka
Prowadzący grup: Dorota Nieciecka
Lista studentów: (nie masz dostępu)
Zaliczenie: Egzamin
Tryb prowadzenia:

w sali
Skrócony opis:

Celem zajęć jest zapoznanie studenta z podstawami technik stosowanych w nowoczesnej analizie fizykochemicznej materiałów w zależności od ich rozmiaru (np. nanomateriały) i składu chemicznego.
Pełny opis:

W ramach wykładu (połączonego merytorycznie z pracownią "Charakterystyka fizykochemiczna próbek do analizy" ) omówione będą zagadnienia dotyczące wybranych technik fizykochemicznych stosowanych we współczesnej analizie chemicznej materiałów: Przedstawione zostną metody przenoszenia analitu z próbek laboratoryjnych (esktrakcja sekwencyjna, mineralizacja, stapianie) np. przed analizą spektrometrią mas sprzężona ze wzbudzeniem w plazmie (ICPMS), spektroskopia fotoelektronów (XPS), spektrometria mas jonów wtórnych (SIMS), technika powierzchniowo wzmocnionego rozpraszania ramanowskiego (SERRS) oraz sprzężenia rezonansowego, metody fotoelektrochemiczne w badaniu aktywności i morfologii fotoogniw, metody charakterystyki warstw na granicy faz woda/powietrze (metoda Langmuira/Langmuira-Blodgett, mikroskopia kąta Brewstera, elipsometria, mikrowaga kwarcowa, pomiar kąta zwilżania), spektroskopia w podczerwieni pojedynczych warstw (PMIRRAS), dyfrakcja rentgenowska (PXRD), mikroskopia elektronowa (SEM, TEM), mikroskopia sił atomowych (AFM), technika dynamicznego rozpraszania światła (DLS), pomiar potencjału zeta.
Literatura:

1. Kęcki Z., Podstawy spektroskopii molekularnej, Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 1992

2. Barańska M., w Fotochemia i spektroskopia optyczna. Ćwiczenia laboratoryjne (red. Najbar J., Turek A.), Wydawnictwo Naukowe PWN, Warszawa 2009.

3. Feldman L. C., Mayer J. W., Fundamentals of Surface and Thin Film Analysis, North- -Holland, New York–Amsterdam–London 1986

4. Spectroscopy for Surface Science (red. Clark R. J. H., Hester R. E.), John Wiley & Sons, Chichester 1998

5. Bhushan B., Fusch H., Hosaka S., Applied scanning probe methods, Springer, 2002.

6. Metody spektroskopowe i ich zastosowanie do identyfikacji związków organicznych (red. Zieliński W., Rajca A.), WNT, Warszawa 2000

7. de Hoffmann E., Charette J., Stoobant V., Spektrometria mas, WNT, Warszawa 1998

8. Adamson A.W., Chemia fizyczna powierzchni, PWN, Warszawa 1963

9. Pigoń K., Ruziewicz Z., Chemia fizyczna. 1. Podstawy fenomenologiczne, Wyd. Naukowe PWN, Warszawa 2005
Opisy przedmiotów w USOS i USOSweb są chronione prawem autorskim.
Właścicielem praw autorskich jest Uniwersytet Warszawski.
Krakowskie Przedmieście 26/28
00-927 Warszawa tel: +48 22 55 20 000 https://uw.edu.pl/ kontakt deklaracja dostępności USOSweb 7.0.3.0 (2024-03-22)