Crystallography Laboratory B

Praktyczne zastosowanie podstawowych idei krystalografii rentgenowskiej i geometrycznej przy wyborze próbek do analizy strukturalnej.

Zapoznanie z tokiem rentgenowskiej analizy strukturalnej.

Interpretacja oraz walidacja wyników rentgenowskiej analizy strukturalnej.

Praca z krystalograficznymi bazami danych strukturalnych (CSD, PDB, ICSD).

Na Laboratoria będą się składać zadania praktyczne, związane bezpośrednio z tokiem rentgenowskiej analizy strukturalnej.

Zadania obejmować będą: metody krystalizacji (np. nastawianie prostej krystalizacji), problematykę wyboru kryształu odpowiedniego do rentgenowskiej analizy strukturalnej (ocena jakości i rozmiaru kryształów pod mikroskopem), sposoby umieszczania wybranego kryształu na dyfraktometrze, ocenę jakości uzyskanego rozpraszania rentgenowskiego (m.in. ocenę rozdzielczości danych rentgenowskich oraz weryfikację, czy próbka jest monokrystaliczna), wykonywanie krótkich pomiarów w celu określenia parametrów sieci odwrotnej i sieci rzeczywistej dla wybranej próbki, określanie symetrii dyfraktogramów (klasy Lauego), analizę wygaszeń systematycznych, pokaz redukcji danych dyfrakcyjnych, rozwiązywanie i udokładnianie struktury dla wybranej próbki za pomocą oprogramowania krystalograficznego (SHELX/OLEX2), ocenę jakości uzyskanych danych rentgenowskich oraz wiarygodności udokładnionego modelu struktury, interpretację informacji strukturalnej przechowywanej w pliku formatu CIF (a więc: znajdowanie długości wiązań, wartości kątów walencyjnych i kątów torsyjnych, opis oddziaływań międzycząsteczkowych w sieci, opis konformacji i ustalanie konfiguracji absolutnej dla wybranego związku), wizualizację danych strukturalnych za pomocą programów krystalograficznych (OLEX2, Mercury), metody przeszukiwania krystalograficznych baz danych strukturalnych (w szczególności CSD, także PDB, ICSD), walidację danych znalezionych w wyniku takiego przeszukiwania.

1. Z. Bojarski, M. Gigla, K. Stróż, M. Surowiec, Krystalografia. Podręcznik wspomagany komputerowo, PWN, Warszawa, 1996, 2001, 2007.

2. Z. Trzaska Durski, H. Trzaska Durska, Podstawy krystalografii, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2003.

3. M. van Meerssche i J. Feneau-Dupont, Krystalografia i chemia strukturalna, PWN, Warszawa 1984.

4. J. P. Glusker, M. Lewis, M. Rossi, Crystal Structure Analysis for Chemists and Biologists, VCH Publishers (1994).

5. C. Giacovazzo, H. Z. Monaco, D. Biterbo, F. Scordari, G. Gilli, G. Zanotti, M. Catti, Fundamentals of Crystallography, IUCR, Oxford University Press, 2000.

Oczekujemy nabycia nastepujących umiejętności:

nastawienie prostej krystalizacji, praca z mikroskopem, ocena, czy dana próbka może nadawać się do celów analizy strukturalnej, określenie symetrii dyfraktogramu (klasa Lauego), interpretacja danych strukturalnych (wyszukiwanie parametrów geometrycznych, ocena jakości i wiarygodności danych), podstawowe posługiwanie się bazami danych strukturalnych oraz oprogramowaniem do wizualizacji takich danych.

Ocena z Laboratorium wyznaczana jest na podstawie sprawozdań przygotowywanych przez studentów w grupach po każdym laboratorium oraz 15min. prezentacji zawierającej streszczenie artykułu naukowego związanego z analizą strukturalną. Krótkie sprawozdania oceniane są w skali od 1 do 10 punktów, za prezentację można uzyskać maksymalnie 30 punktów. Ocena wystawiana jest na podstawie sumarycznej liczby punktów zdobytych za sprawozdania oraz prezentację (w procentach maksymalnej możliwej do zdobycia liczby punktów):

Punkty zdobyte (x) przeliczane są na oceny w/g skali (mlp – maksymalna liczba punktów możliwych do zdobycia):

x>90% max. liczby punktów (mlp) ocena 5

80% < x < 90% mlp ocena 4+

70% < x < 80% mlp ocena 4

60% < x < 70% mlp ocena 3+

50% < x < 60% mlp ocena 3

x < 50% mlp ocena 2

W indywidualnych przypadkach aktywność studentów na zajęciach może być podstawą podwyższenia uzyskanej oceny.

nie dotyczy